Ellipsometry at the Nanoscale av Timothy Egan
Jämför priser
Ellipsometry at the Nanoscale
Inbunden

Ellipsometry at the Nanoscale

av

Timothy Egan

Beskrivning:

This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology [...]
Visa längre beskrivning

Fakta

Förlag:
Springer-Verlag Berlin and Hei
ISBN:
9783642339554
Bandtyp:
Inbunden
Utgiven:
201303
Språk:
Engelska
Antal Sidor:
720
ISBN-10:
3642339557
Visar priser hos 3 butiker (1909.00 kr - 3546.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
CDON.com Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden 1909.00 kr I lager 5-15 dagar 1909.00 kr
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 2251.00 kr I lager 2-5 dagar 2251.00 kr
Bokus.com Över 6 miljoner titlar Fraktfritt över 100kr Medmera-återbäring på alla köp 3546.00 kr I lager 10-15 dagar 3546.00 kr

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!