An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Jämför priser
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
häftad

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

Beskrivning:

Fakta

ISBN:
9781681740249
Bandtyp:
häftad
Utgiven:
2015-11
Språk:
Engelska
Visar priser hos 1 butiker (403.00 kr - 403.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 403.00 kr I lager 2-5 dagar 403.00 kr Till butik

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!

Bookify.se

bookify.se är en specialist inom prisjämförelse av böcker och studentlitteratur. Vi hjälper dig att hitta de billigaste böckerna genom att jämföra priser bland Sveriges största e-bokhandlare.

© 2020 Copyright bookify.se