Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target interactions, electron beam instrumentation, X [...]
Visa längre beskrivning
Butik | Mervärde | Pris | Tillgänglighet | Leveranstid | Inkl frakt | Länkar |
---|---|---|---|---|---|---|
Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser | 681.00 kr | I lager | 5-7 dagar | 681.00 kr | Till butik |
Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!