Jämför priser
Inbunden
Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscop
avWai Kin Chim
Beskrivning:
Fakta
- Förlag:
- Wiley
- ISBN:
- 9780471492405
- Bandtyp:
- Inbunden
- Utgiven:
- 2000-11-30
- Språk:
- Engelska
- Upplaga:
- 1
- Antal Sidor:
- 288
Priser hos nätbutiker
| Butik | Mervärde | Pris | Tillgänglighet | Leveranstid | Inkl frakt | Länkar |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden | 1735.00 kr | I lager | Uppgift saknas | 1735.00 kr | Till butik |
 |
Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser | 1858.00 kr | I lager | 2-5 dagar | 1858.00 kr | Till butik |
 |
Över 6 miljoner titlar Fraktfritt över 100kr Medmera-återbäring på alla köp | 1921.00 kr | I lager | 5-8 dagar | 1921.00 kr | Till butik |
Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!
