Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscop av Wai Kin Chim
Jämför priser
Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscop
Inbunden

Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscop

av

Wai Kin Chim

Beskrivning:

Fakta

Förlag:
Wiley
ISBN:
9780471492405
Bandtyp:
Inbunden
Utgiven:
2000-11-30
Språk:
Engelska
Upplaga:
1
Antal Sidor:
288
Visar priser hos 1 butiker (1858.00 kr - 1858.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 1858.00 kr I lager 2-5 dagar 1858.00 kr Till butik

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!

Bookify.se

bookify.se är en specialist inom prisjämförelse av böcker och studentlitteratur. Vi hjälper dig att hitta de billigaste böckerna genom att jämföra priser bland Sveriges största e-bokhandlare.

© 2020 Copyright bookify.se