Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis av Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, D.C. Joy
Jämför priser
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Övrigt

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

av

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, D.C. Joy

Beskrivning:

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning e [...]
Visa längre beskrivning

Fakta

Förlag:
Kluwer Academic/Plenum Publish
ISBN:
9780306472923
Bandtyp:
Övrigt
Utgiven:
200209
Språk:
Engelska
Upplaga:
3rd Corrected ed. 2003. Corr.
Antal Sidor:
709
ISBN-10:
0306472929
Visar priser hos 2 butiker (378.00 kr - 966.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
CDON.com Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden 378.00 kr I lager Uppgift saknas 378.00 kr
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 966.00 kr I lager 2-5 dagar 966.00 kr

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!