Beam Effects, Surface Topography and Depth Profiling in Surface Analysis
Jämför priser
Beam Effects, Surface Topography and Depth Profiling in Surface Analysis
Inbunden

Beam Effects, Surface Topography and Depth Profiling in Surface Analysis

Beskrivning:

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the princi [...]
Visa längre beskrivning

Fakta

Förlag:
Plenum Publishing Co.,N.Y.
ISBN:
9780306458965
Bandtyp:
Inbunden
Utgiven:
199810
Språk:
Engelska
Antal Sidor:
449
ISBN-10:
0306458969
Visar priser hos 3 butiker (1897.00 kr - 1974.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 1897.00 kr I lager 2-5 dagar 1897.00 kr
CDON.com Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden 1939.00 kr I lager dagar 1939.00 kr
Bokus.com Över 6 miljoner titlar Fraktfritt över 100kr Medmera-återbäring på alla köp 1974.00 kr I lager 3-6 dagar 1974.00 kr

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!