Journey to Data Quality av James D. Funk, Richard Y. Wang, Yang W. Lee, Leo L. Pipino
Jämför priser
Journey to Data Quality
Pocket

Journey to Data Quality

av

James D. Funk, Richard Y. Wang, Yang W. Lee, Leo L. Pipino

Beskrivning:

Fakta

Förlag:
MIT
ISBN:
9780262513357
Bandtyp:
Pocket
Utgiven:
2009-09-30
Språk:
Engelska
Antal Sidor:
226
Visar priser hos 2 butiker (179.00 kr - 215.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
CDON.com Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden 179.00 kr I lager 5-15 dagar 179.00 kr
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 215.00 kr I lager 2-5 dagar 215.00 kr

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!