Inbunden

Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces

av

Dror Sarid

Beskrivning:

Fakta

Förlag:: Oxford University Press, USA
ISBN:: 9780195092042
Bandtyp:: Inbunden
Utgiven:: 1994-08-25
Språk:: Engelska
Antal Sidor:: 288

Produkten finns inte i någon butik

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!

bookify.se är en specialist inom prisjämförelse av böcker och studentlitteratur. Vi hjälper dig att hitta de billigaste böckerna genom att jämföra priser bland Sveriges största e-bokhandlare.