Vlsi Test Principles And Architectures av Laung-terng Wang, Cheng-wen Wu, Xiaoqing Wen
Jämför priser
Vlsi Test Principles And Architectures
Inbunden

Vlsi Test Principles And Architectures

av

Laung-terng Wang, Cheng-wen Wu, Xiaoqing Wen

Beskrivning:

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
- Most up-to-date coverage of design for testability.
- Cove [...]
Visa längre beskrivning

Fakta

Förlag:
Elsevier Science & Technology
ISBN:
9780123705976
Bandtyp:
Inbunden
Utgiven:
2006-08-14
Språk:
Engelska
Antal Sidor:
808
ISBN-10:
0123705975
Visar priser hos 2 butiker (515.00 kr - 539.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
Bokakademin Fysisk butik på Linköping Campus Valla. 515.00 kr I lager Direkt i hand Skickas ej
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 539.00 kr I lager 5-9 dagar 539.00 kr

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!