This third edition has been extended considerably to incorporate more information on instrument influences on the interpretation of X-ray scattering profiles and reciprocal space maps. Another significant inclusion is on the scattering from powder samples, covering a new theoretical approach that ex [...]
Visa längre beskrivning
Butik | Mervärde | Pris | Tillgänglighet | Leveranstid | Inkl frakt | Länkar |
---|---|---|---|---|---|---|
Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser | 1165.00 kr | I lager | 5-7 dagar | 1165.00 kr | Till butik |
Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!