This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that [...]
Visa längre beskrivning
Butik | Mervärde | Pris | Tillgänglighet | Leveranstid | Inkl frakt | Länkar |
---|---|---|---|---|---|---|
Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser | 892.00 kr | I lager | 1-2 dagar | 892.00 kr | Till butik |
Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!