Time of flight secondary ion mass spectrometry, TOF-SIMS, is a highly surface sensitive analytical technique that provides information about composition with submicron lateral resolution. For select materials, TOF-SIMS provides unparalleled sensitivity along with excellent reproducibility, and as a [...]
Visa längre beskrivning
Butik | Mervärde | Pris | Tillgänglighet | Leveranstid | Inkl frakt | Länkar |
---|---|---|---|---|---|---|
Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser | 919.00 kr | I lager | 2-5 dagar | 919.00 kr | Till butik |
Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!