Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis av Mark Elbroch
Jämför priser
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Häftad

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

av

Mark Elbroch

Beskrivning:

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the pr [...]
Visa längre beskrivning

Fakta

Förlag:
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:
9781441932990
Bandtyp:
Häftad
Utgiven:
201012
Språk:
Engelska
Upplaga:
1st ed. Softcover of orig. ed.
Antal Sidor:
449
ISBN-10:
1441932992
Visar priser hos 3 butiker (1905.00 kr - 1939.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 1905.00 kr I lager 5-7 dagar 1905.00 kr
Bokus.com Över 6 miljoner titlar Fraktfritt över 100kr Medmera-återbäring på alla köp 1925.00 kr I lager 5-8 dagar 1925.00 kr
CDON.com Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden 1939.00 kr I lager 5-15 dagar 1939.00 kr

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!