Jämför priser
Inbunden
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
avAlvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-peter Vollertsen, Su
Beskrivning:
Fakta
- Förlag:
- Wiley
- ISBN:
- 9780471731726
- Bandtyp:
- Inbunden
- Utgiven:
- 2009-08-31
- Språk:
- Engelska
- Upplaga:
- 1
Priser hos nätbutiker
| Butik | Mervärde | Pris | Tillgänglighet | Leveranstid | Inkl frakt | Länkar |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |
Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser | 1252.00 kr | I lager | 2-5 dagar | 1252.00 kr | Till butik |
 |
Över 6 miljoner titlar Fraktfritt över 100kr Medmera-återbäring på alla köp | 1279.00 kr | I lager | 5-8 dagar | 1279.00 kr | Till butik |
 |
Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden | 1436.00 kr | I lager | Uppgift saknas | 1436.00 kr | Till butik |
Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!
