Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques av Paul H. Bardell
Jämför priser
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Inbunden

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

av

Paul H. Bardell

Beskrivning:

Fakta

Förlag:
Wiley
ISBN:
9780471624639
Bandtyp:
Inbunden
Utgiven:
1987-12-31
Språk:
Engelska
Upplaga:
1
Antal Sidor:
368
ISBN-10:
0471624632
Visar priser hos 3 butiker (1629.00 kr - 2684.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
CDON.com Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden 1629.00 kr I lager 5-15 dagar 1629.00 kr
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 2021.00 kr I lager 2-5 dagar 2021.00 kr
Bokus.com Över 6 miljoner titlar Fraktfritt över 100kr Medmera-återbäring på alla köp 2684.00 kr I lager 3-6 dagar 2684.00 kr

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!