New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices av Zeev Zalevsky, Pavel Livshits, Eran Gur
Jämför priser
New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
Inbunden

New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices

av

Zeev Zalevsky, Pavel Livshits, Eran Gur

Beskrivning:

Provides an introduction to transmission and scanning microscope image processing for images of metal microstructures. This title presents novel 'smart' image processing methods, applications, and case studies concerning quality improvement of microscope images of microelectronic chips and process o [...]
Visa längre beskrivning

Fakta

Förlag:
Elsevier Ltd, Oxford
ISBN:
9780323241434
Bandtyp:
Inbunden
Utgiven:
2014-01-01
Språk:
Engelska
Antal Sidor:
101
ISBN-10:
0323241433
Visar priser hos 3 butiker (339.00 kr - 449.00 kr)
Sortera Efter:

Priser hos nätbutiker

Butik Mervärde Pris Tillgänglighet Leveranstid Inkl frakt Länkar
CDON.com Alltid störst sortiment Bonustrappa; samla inköp och få unika erbjudanden 339.00 kr I lager 5-15 dagar 339.00 kr
Adlibris.com Nordens största bokhandel med över 10 miljoner titlar. Alltid låga priser 431.00 kr I lager 2-5 dagar 431.00 kr
Bokus.com Över 6 miljoner titlar Fraktfritt över 100kr Medmera-återbäring på alla köp 449.00 kr I lager 2-5 dagar 449.00 kr

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!